紫外可見分光光度計在雜散光誤差選擇中。當設備調整至 0 或標準范圍后，所得到的透射比數值則為檢測樣品在該波段位置的雜散光數值。為此，上海菁華科技儀器有限公司對紫外分光光度計檢定時需要針對不同類型的單色設備使用相應波長的阻斷濾光片，標準檢測波長為 420 nm。上海菁華指出754紫外可見分光光度計檢定過程中，。技術人員需要在 235 nm、257 nm、313 nm 波長下，分別矯正儀器設備的 0 度范圍以及滿度范圍，進一步測量出各標準物質的基礎透射比，數據測量的平均數值以及標準值之差一。
上海菁華紫外可見分光光度計754（自動）
功能特性：
1200L/mm紫外光柵，C-T單色器結構。
樣品室可擴展至10cm樣品架。
自動設置波長，自動調0%T/100%T，T/A的轉換。
具有自動修正波長誤差、光源自動切換等功能。
儀器具有光度、定量、標準曲線等功能
性能指標：
波長驅動：自動
波長范圍：190~1100nm
波長準確度：±0.5nm
波長重復性：0.2nm
光譜帶寬：4nm
透射比準確度：≤0.3%T
透射比重復性：0.1%T
透射比范圍：0~200%T
吸光度范圍：-0.4~4A
濃度顯示范圍：0~99999
雜散光：≤0.05%T
穩定性：±0.001A/h
噪聲：0.0005A
輸出接口：RS-232
回歸方程：具備
